天津市拓普儀器
Tianjin Topu Instrument
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近代科學技術的許多領域中對各種薄膜的研究和應用日益廣泛。因此，更加精確和迅速的測定給定薄膜的光學參數已變得更加迫切和重要。在實際工作中可以利用各種傳統的方法測定光學參數，如：布儒斯特角法測介質膜的折射率，干涉法測膜厚，其它測膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。
WSZ-5A型單光子計數實驗系統是我公司開發的一套實驗系統，該實驗由單光子計數器、制冷系統、外光路等部分組成。該系統的信號處理部分采用脈沖高度甄別，甄別后的信號送脈沖計數器進行計數。輸出的信號也直接引出至面板，實驗者可以根據自己的實驗情況進行實驗擴展，這樣給實驗者以更加大的實驗空間以到達學習與鍛煉的目的。
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