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紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)
產品簡介:

TP720型紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)可覆蓋UV-VIS-NIR全波段光譜范圍,實現UV-Vis-NIR波段連續掃描,其應用領域廣泛,可測量固體/液體樣本在紫外-可見-近紅外范圍內的特征吸收;可研究玻璃鍍膜樣品吸收/透射或反射光譜;可研究粉末樣品在整個紫外可見近紅外區的吸收譜圖,適合于半導體、光學元件、建筑材料、新型材料等等行業,是功能Z強勁的光譜分析儀器。

產品型號:TP720型

更新時間:2025-06-17

廠商性質:生產廠家

訪 問 量 :45483

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產品介紹
紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)
TP720型紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)儀器特點:
  1. 采用經典的Czerny-Turner光學結構,其結構簡單、精度高、光譜分辨率良好;
  2. 采用雙光柵、雙接收器的設計,保證了儀器工作波段可覆蓋紫外可見、近紅外區(UV-VIS-NIR)全波段的優勢;
  3. 接收器件均為進口器件,保證了儀器的高性能和穩定度;
  4. 儀器的控制(如光柵轉換、濾光片轉換、接收器轉換、波長掃描等)全部由計算機控制,接口為 USB2.0,儀器的連接簡單,提高了通訊速率;
  5. 狹縫寬度7檔可選,分別是(0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、3.0nm、5.0nm)。用戶可根據實際需要任意選擇。
  6. 全中文操作軟件,功能選擇簡單、易懂。
  TP720型紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)規格參數:

工作波長范圍

190-2800nm

掃描方式

透過率、吸光度、反射率、能量

波長準確度

±0.5nmUV/VIS;±8nmNIR

波長重復性

0.3nm(UV/VIS); ±4nmNIR

采樣間隔

0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm

光度范圍

0.3002.5A

光度準確度

±0.3%T0-100%T

光度重復性

0.2%T

基線平直度

±0.008A200-2500nm,預熱30分鐘后)

光譜帶寬

0.2nm-10nm

雜散光

≤0.2%T220nm

外形尺寸

830*600*260mm

  TP720型紫外可見近紅外分光光度計軟件功能:
  本儀器工作軟件具有豐富的測試分析功能,可進行透過率、吸光度、能量、反射率測量。具有光譜掃描、定點測量、多波長測量的功能。
  TP720型紫外可見近紅外分光光度計儀器成套性:
  紫外可見近紅外分光光度計主機、USB數據線、石英比色皿、擋零塊、應用軟件、配套工具等
  * 計算機及打印機(需另配)。
  TP720型紫外可見近紅外分光光度計可選附件:
  反射附件、固體樣品測量附件、漫反射樣品測量附件




 

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