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天津拓普橢圓偏振測厚儀
產品簡介：

近代科學技術的許多領域中對各種薄膜的研究和應用日益廣泛。因此，更加精確和迅速的測定給定薄膜的光學參數已變得更加迫切和重要。在實際工作中可以利用各種傳統的方法測定光學參數，如：布儒斯特角法測介質膜的折射率，干涉法測膜厚，其它測膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。

產品型號：TPY-1型

更新時間：2025-04-29

廠商性質：生產廠家

訪 問 量 ：3685

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產品介紹

產品特點：

  • 儀器采用消光法自動測量薄膜厚度和折射率，具有精度高、靈敏度高以及方便測量等特點；

  • 光源采用氦氖激光器，功率穩定、波長精度高；

  • 儀器配有生成表、查表以及精確計算等軟件，方便用戶使用。


規格與主要技術指標：

  • 測量范圍：薄膜厚度范圍：1nm-300nm；

  • 折射率范圍：1-10

  • 測量zui小示值：≤1nm

  • 入射光波長：632.8nm

  • 光學中心高：80mm

  • 允許樣品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm

  • 偏振器方位角范圍：0°- 180°讀取分辨率為0.05°

  • 測量膜厚和折射率重復性精度分別為：±1nm和±0.01

  • 入射角連續調節范圍：20°- 90°精度為0.05°

  • 主機重量：25kg


成套性：主機、電控系統、計算軟件

外形尺寸：680*390*320mm





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